于避免锂枝晶的形成,因为锂在负极侧出现时,其形态可能因电位差异而有所不同。
不过,硅在充放电过程中会发生巨大的体积膨胀,甚至可达300%,这种体积变化又可能导致硅颗粒内部应力堆积,使硅材料粉化,进而可能加剧锂枝晶的形成。
赵教授他们应该就是没毁在这上面。
验证码验证正确才能显示加密内容!
1次验证码通过可以阅读10页面
如果您是使用浏览器的阅读(转码)模式请退出阅读(转码)模式才能通过验证码验证!
使用验证码验证主要是防止机器人爬取及浏览器转码为您的阅读带来不便敬请谅解!
网站随时会被屏蔽无法访问,请下载APP继续阅读。APP内容更加精彩,期待你的到来。点击确认开始下载。
于避免锂枝晶的形成,因为锂在负极侧出现时,其形态可能因电位差异而有所不同。
不过,硅在充放电过程中会发生巨大的体积膨胀,甚至可达300%,这种体积变化又可能导致硅颗粒内部应力堆积,使硅材料粉化,进而可能加剧锂枝晶的形成。
赵教授他们应该就是没毁在这上面。
验证码验证正确才能显示加密内容!
1次验证码通过可以阅读10页面
如果您是使用浏览器的阅读(转码)模式请退出阅读(转码)模式才能通过验证码验证!
使用验证码验证主要是防止机器人爬取及浏览器转码为您的阅读带来不便敬请谅解!